お知らせ

2019年11月06日

美濃島薫教授（大学院情報理工学研究科 基盤理工学専攻）およびネオアーク株式会社は、JST(国立研究開発法人 科学技術振興機構)戦略的創造研究推進事業において、デュアルコム分光法を利用することにより、磁気光学効果測定装置の性能を従来に比べて大幅に向上させることに成功しました。

デュアルコム分光法とは、精密に制御された超短パルスレーザーである光周波数コム（光コム）を2つ使う新しい分光法で、従来のフーリエ分光法に比べ、分解能、感度、測定時間などの点で非常に優れています。

本測定システムは卓上型で、測定装置本体、デュアルコム光源、コントローラーから構成されており、発生磁場は最大で±10キロエルステッドです。さらに、上述の固体物性評価技術をもとに、固体の複素屈折率を測定する装置の試作機を開発しました。固体材料を通過した光の強度比だけでなく、位相差も測定できることが大きな特長です。

これらの装置は、2019年11月12日から14日まで科学技術館（東京都千代田区）で開催される「光とレーザーの科学技術フェア2019」にて展示予定です。

• （新しいウィンドウが開きます）光とレーザーの科学技術フェア
• （新しいウィンドウが開きます）デュアルコム分光法を利用した磁気光学効果測定装置を開発
  ～偏光・分光測定や材料開発の新ツールの実用化に大きく前進～（PDF：281KB）