学位

経歴

学歴

受賞

• 全国大会優秀賞 [オーガナイズドセッション口頭発表部門]
• 日本テスト学会大会発表賞

その他

論文

• Computerized Adaptive Testing to Balance Exposure Bias and Measurement Accuracy Using Zero-Suppressed Binary Decision Diagrams [DOI]
• 項目難易度制約付き等質適応型テスト
• 項目露出ペナルティを用いた 整数計画法による自動並行テスト構成
• Item Difficulty Constrained Uniform Adaptive Testing [DOI]
• Multiple Zero-suppressed Binary Decision Diagramsによる自動テスト構成 [J-GLOBAL] [DOI]
• Hybrid Maximum Clique Algorithm Using Parallel Integer Programming for Uniform Test Assembly [DOI]
• Zero-suppressed Binary Decision Diagramsを用いた自動テスト構成 [J-GLOBAL]
• 項目露出を考慮した整数計画法による等質テスト構成 [J-GLOBAL]
• e-Testing from artificial intelligence approach [DOI]
• 等質テスト構成における整数計画法を用いた最大クリーク探索の並列化 [J-GLOBAL]

その他業績

• 問題項目への所要時間を予測するMulti-Task Deep Gaussian Process [J-GLOBAL]
• 測定精度の等質性を向上させる最大重みクリーク問題と混合整数計画問題を用いた自動テスト構成 [J-GLOBAL]
• 所要時間におけるDeep-IRTを用いて制限時間を考慮した自動並行テスト構成 [J-GLOBAL]
• 自動テスト構成のためのロジスティック項目露出ペナルティを用いた整数計画法 [J-GLOBAL]
• 暴露数の偏り軽減のための項目難易度制約付き等質適応型テスト [J-GLOBAL]
• 重み付き最大クリーク探索を用いた自動テスト構成 [J-GLOBAL]
• 自動テスト構成における項目露出の偏りを軽減する整数計画法を用いた最大クリーク探索 [J-GLOBAL]
• ZDDを用いた等質テスト構成 [J-GLOBAL]
• 測定誤差を制御する2段階等質適応型テスト [J-GLOBAL]
• 項目露出を考慮した整数計画法による等質テスト構成 [J-GLOBAL]
• 等質テスト構成のための最大クリーク並列探索アルゴリズム [J-GLOBAL]

講演・口頭発表等

書籍等出版物

作品等

共同研究・競争的資金等の研究課題

• ZDDを用いた等質適応型テストの開発

メディア報道

産業財産権

所属学協会

• 人工知能学会
• 教育システム情報学会

委員歴

担当経験のある科目

• 情報領域演習第二

社会貢献活動

学術貢献活動

• Behaviormetrika, Springer